39 |
[국내] |
프로브카드의 지지 어셈블리 |
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38 |
[국내] |
다단구조 접촉팁이 형성된 프로브 시트 및 그 제조방법 |
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37 |
[해외] |
CONTACTOR BLOCK OF SELF-ALIGNING VERTICAL PRBOE CARD AND MANUFACTURING METHOD THEREFOR |
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36 |
[해외] |
PROBE INCLUDING AN ALIGNMENT KEY PROTRUDED FROM A SIDE OF AN ALIGNMENT BEAM AND PROBE CARD INCLUDING THE SAME |
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35 |
[해외] |
SEMICONDUCTOR DEVICE TEST SOCKET(B) |
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34 |
[해외] |
TEST SOCKET |
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33 |
[해외] |
CONTACTOR BLOCK OF SELF-ALIGNING VERTICAL PRBOE CARD AND MANUFACTURING METHOD THEREFOR |
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32 |
[국내] |
셀프 얼라인 버티컬 프로브 카드의 컨택터 블록 및 그 제조방법 |
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31 |
[국내] |
테스트용 소켓 |
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